undefined

undefined

Аргонно-ионная полировка 685 (PECS II)

Аргонно-ионная полировка 685 (PECS II)

С помощью широкополосного пучка аргоновых ионов проводится полировка и покрытие образцов, что позволяет получить высококачественные результаты съемки и анализа в сканирующем электронном микроскопе (SEM). Прецизионный аппарат для травления и покрытия (PECSTM) II — это настольное устройство для полировки и покрытия широкополосным пучком аргоновых ионов. На одном и том же образце можно выполнить как полировку, так и нанесение покрытия в одной и той же вакуумной среде. PECS II — это полностью автономное компактное настольное устройство. Оно использует два источника широкополосных аргоновых ионов для полировки поверхности образца, удаляя повреждённые слои и получая высококачественные образцы, пригодные для получения изображений в сканирующем электронном микроскопе, оптическом микроскопе или сканирующем зондовом микроскопе, а также для проведения EDS, EBSD, CL, EBIC и других видов анализа. PECS II оснащён технологией WhisperLok® и может быть дополнительно оборудован охлаждающим столом с терморегулированием на жидком азоте. Эта функция помогает предотвратить размягчение или структурные изменения образца, вызванные теплом, выделяющимся в процессе полировки. В PECS II встроенный 10-дюймовый сенсорный экран. Благодаря ему как начинающие, так и опытные пользователи могут повысить контроль и воспроизводимость процесса обработки образцов. Цифровой микроскоп с функцией цифрового зума, совместимый с программным обеспечением DigitalMicrograph®, позволяет в режиме реального времени отслеживать процесс обработки образца и сохранять цветные фотографии, что облегчает проверку и анализ образцов в сканирующем электронном микроскопе.
21.png

Обзор продукта

Технические характеристики

Преимущества продукта

Применение продукта

Обзор продукта

С помощью широкополосного пучка аргоновых ионов проводится полировка и покрытие образцов, что позволяет получить высококачественные результаты съемки и анализа в сканирующем электронном микроскопе.
Прибор для точного травления и покрытия (PECSTM) II — это настольное устройство для полировки и покрытия широким пучком аргоновых ионов.
Для одного и того же образца полировку и покрытие можно выполнить в одной и той же вакуумной среде.
PECS II — это полностью автономное компактное настольное устройство. Оно использует два широкопучковых аргоновых ионных источника для полировки поверхности образца, удаляя повреждённый слой и получая высококачественные образцы, пригодные для получения изображений в сканирующем электронном микроскопе (SEM), оптическом микроскопе или сканирующем зондовом микроскопе, а также для проведения анализа методами EDS, EBSD, CL, EBIC или других методов.
PECS II оснащён технологией WhisperLok® и по желанию может быть дополнен охлаждающим столом с терморегулируемым жидким азотом. Эта функция помогает предотвратить плавление образца или изменение его структуры, вызванные теплом, выделяющимся в процессе полировки.
PECS II оснащён 10-дюймовым сенсорным экраном. Как начинающие, так и опытные пользователи смогут повысить контроль и повторяемость обработки образцов. Цифровой микроскоп с функцией цифрового зума в сочетании с программным обеспечением DigitalMicrograph® позволяет осуществлять мониторинг процесса обработки образца в режиме реального времени и сохранять цветные фотографии, что облегчает проверку и анализ образцов в сканирующем электронном микроскопе.

Технические характеристики

Проект Технические характеристики
Ионный источник (Ion Source)  
Ионная пушка Две ионные пушки Пеннинга с редкоземельными магнитами
Угол полировки (°) 0 – 18° (каждая ионная пушка регулируется независимо)
Энергия ионного пучка (кэВ) 0,1 – 8,0
Пиковая плотность ионного тока (мА/см²) 10
Скорость полировки на кремнии (мкм/ч) 90
Диаметр пучка Может регулироваться с помощью контроллера расхода газа или напряжения разряда.
Модуляция светового луча Одинарный/Двойной, регулируемый диапазон
Столик для образцов (Specimen Stage)  
Размер образца (диаметр × высота, мм) 32 × 15
Скорость вращения (об/мин) 1 – 6
Система наблюдения (Просмотр) Цифровой микроскоп с функцией цифрового зума (опционально, с ПК и памятью DM)
Вакуумная система (Vacuum)  
Вакуумная система Двухступенчатый мембранный насос + турбинный буксировочный насос 80 л/с
Предельное давление (торр) 5 × 10⁻⁶
Давление рабочее (торр) 8 × 10⁻⁵
Вакуумметр Основная камера: холоднокатодная; резервный насос: твердотельный
Замкнутый контейнер для образцов Технология WhisperLok
Время обмена образцами (мин) < 1
Пользовательский интерфейс (User Interface) 10-дюймовый цветной сенсорный экран, поддерживающий полный контроль параметров и управление рецептами.
Размеры и источники питания (Dimensions & Utilities)  
Габаритные размеры (мм) 575 × 495 × 615
Вес при отгрузке (кг) 45
Потребляемая мощность (Вт) Работа 200; Ионный пистолет выключен 100
Требования к источнику питания Общее напряжение 100–240 В переменного тока, 50–60 Гц
Давление аргона (psi) 25

Преимущества продукта

Полностью автоматизированная система полировки аргоновыми ионами подходит для подготовки образцов к SEM-исследованиям; она позволяет получать безупречные поверхности, поперечные срезы и покрытия, что обеспечивает защиту образца или решает проблему электризации неметаллических образцов.

Достаточно одного вакуумирования, чтобы осуществить полировку, травление или покрытие образца.
Гравировка при напряжении от 100 вольт и ниже, что позволяет быстро получить образцы с неповреждённой поверхностью.
Можно готовить образцы диаметром до 32 миллиметров.
Перенести образец из прибора PECS™ II в СЭМ/ФИБ или в перчаточную камеру (опционально) без доступа воздуха.
Использование DigitalMicrograph от Gatan ® Программное обеспечение для хранения и анализа изображений, цифровая оптическая визуализация
Интегрированный 10-дюймовый цветной сенсорный экран для отображения и управления всеми параметрами PECS II

Применение продукта

• Улучшение свойств биомедицинских материалов: усовершенствование микроструктуры цинково-литиевого сплава.
• Обработка образцов без повреждений: покрытие медью пористого сплава цинка с сохранением целостности материала.
• Удаление оксидного слоя: очистка поверхности магниевого сплава для получения чётких данных EBSD.
• Улучшение качества изображений EDS: контроль за влиянием рельефа и толщины поверхности образца.
• Оптимизация поверхности многофазных алюминиевых сплавов: достижение высококачественного кристаллографического анализа.
• Исследование межфазных границ многофазных сплавов CoRe: анализ фазовых границ в сложных сплавах.

Предыдущая страница:

Отправьте ваш запрос

Отправить

Соответствующие товары

Отправить