undefined
Полочный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью SC-FS200
Полочный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью SC-FS200
Обзор продукта
Технические характеристики
Преимущества продукта
Применение продукта
Обзор продукта
SC-FS200 — это компактный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с полноразмерными характеристиками, особенно подходящий для анализа изображений крупных образцов. Он оснащён навигационной камерой и камерой в рабочей камере, что обеспечивает высокую гибкость при работе. Основные характеристики включают:
Электронный источник: вольфрамовая нить
Эффективное увеличение: около 100 000× (диапазон 20×–300 000×)
Разрешение: 3,0 нанометра
Ускоряющее напряжение: 1–30 кВ
Время замены образца: завершается в течение 60 секунд.
Электрический пятиосевой стол для перемещения грузов: движение во всех направлениях — X, Y, Z, R, T
Специализированные камеры: навигационная камера и камера для полости обеспечивают более удобное наблюдение.
Объём полости: поддержка загрузки крупных образцов
Технические характеристики
| Проект | Описание параметров |
| Размер (ширина × длина × высота) | 680 × 780 × 1460 мм |
| Электронный источник | Вольфрамовая нить |
| Разрешение | 3,0 нм |
| Диапазон увеличения | 20× — 300 000× |
| Эффективное увеличение | ~100 000× |
| Вакуум в стволе оружия |
Примерно 10 -6 торр |
| Диапазон ускоряющего напряжения | 1–30 кВ |
| Вакуумная система | Роторный насос + турбомолекулярный насос (Rotary Pump + TMP) |
| Ход электрической пятиосевой платформы для груза | X, Y: 50 мм; Z: 45 мм; R: 360°; T: -20° ~ 45° |
Преимущества продукта
Сверхбыстрое формирование изображений за 60 секунд Используя высокоэффективную вакуумную систему «роторный насос + турбомолекулярный насос», от загрузки образца до получения изображения требуется менее 1 минуты, что значительно повышает пропускную способность анализа.
Визуализированная точная навигация Стандартная комплектация Навигационная камера С и Камера с полостью Поддержка функции «доступ к образцам одним нажатием», реальное отслеживание внутреннего состояния, операции без порога входа, повышенная безопасность благодаря предотвращению столкновений.
Полностью электрическое управление 5 осями Поддерживает не только перемещение по осям X/Y/Z, но и ещё больше. Поворот на 360° С и Наклон от -20° до 45° Полный обзор без мёртвых зон, отвечающий требованиям анализа сложных образцов.
3,0 нм высокое разрешение Несмотря на компактный корпус, он обладает полноразмерными характеристиками электронного микроскопа. 100 000× эффективное увеличение (Максимум 300 тыс.), совместимость с широким диапазоном напряжений от 1 до 30 кВ, чёткое отображение деталей на наноуровне
Конструкция большого бункера для образцов Оптимизированное пространство камеры позволяет загружать образцы большего размера, снижает повреждения при резке и обеспечивает возможность проведения безразрушающего анализа напрямую.
Применение продукта
Наука о материалах: Анализ изломов металлов, морфология наноматериалов, наблюдение за размерами порошков и керамических частиц.
Полупроводники/Электроника: Обнаружение паяных соединений на печатных платах/печатных платах с монтажом компонентов, анализ дефектов в упаковке микросхем, наблюдение за проволочными связями.
Промышленный контроль качества: Выявление дефектов на поверхности продукции, анализ посторонних включений, контроль качества покрытий.
Науки о жизни: Наблюдение за структурой поверхности биологических тканей, а также за формой пыльцы и семян растений
Предыдущая страница:
Следующая страница:
Отправьте ваш запрос
Свяжитесь с нами прямо сейчас и получите бесплатную консультацию от экспертов!
Соответствующие товары
Как высокотехнологичная компания, ориентированная на технологии и основанная на услугах, с самого момента своего создания мы уделяем особое внимание технологическому потенциалу и исследовательско-разработочным возможностям предприятия.
Компания «Бэйцзин Яосин Технолоджи»
Отправьте ваш запрос
Свяжитесь с нами прямо сейчас и получите бесплатную консультацию от экспертов!