undefined

undefined

Сверхглубокая фокусная 3D-микроскопия

Сверхглубокая фокусная 3D-микроскопия

3D-система цифровой микроскопии с ультравысокой глубиной резкости представляет собой интегрированную цифровую платформу для микроскопической визуализации и измерений, поддерживающую наблюдение и высокоточные измерения как в 2D-, так и в 3D-режиме; предназначена для использования в таких профессиональных областях, как научные исследования, материаловедение, полупроводниковая промышленность, электроника 3C, металлография и науки о жизни.
e4d5014ac67a37028954acd3e702ee10.png
afcfbb7a966df7a17d58a6b3b71a3f94.png
53b7b38d532bf83a34530db27ffd8a84.png
bb00c0ab9521175a35409ecb0195bee9.png
2bf551a2858cb0e3b02fef3ec1af0da3.png

Обзор продукта

Технические характеристики

Преимущества продукта

Применение продукта

Обзор продукта

  • 3D Цифровая микроскопическая система с сверхглубиной резкости Да Интегрированная цифровая платформа микроскопической визуализации и измерений, поддерживающая от 2D До 3D Наблюдения и высокоточные измерения, ориентированные на научные исследования, материалы, полупроводники, 3C Профессиональные сценарии, такие как электроника, металлография и науки о жизни.

Технические характеристики

Категория

Спецификация

 

Имaging-блок / Камера

4K / Высокоразрешающий CMOS (например: 30 кадров/с при разрешении 4000×3000; 60 кадров/с при разрешении 2560×1920; 12 Мп и другие конфигурации)

Объектив / Увеличение

Апо-апоцентрические объективы и металлографические объективы; поддержка диапазона увеличений от 20× до 7500× с помощью различных зум-объективов и объективов фиксированного увеличения (например, DMS-PA20, PA100, PA200, PA500, PA2500).

Поле зрения (FOV) / Рабочее расстояние (WD)

Примеры в зависимости от объектива: при увеличении 20× поле зрения ≈ 19 мм, рабочее расстояние ≈ 18 мм; при увеличении 2500× поле зрения ≈ 0,152 мм, рабочее расстояние ≈ 1,5 мм (конкретные значения см. в таблице выбора).

Опции хода перемещения предметного столика

60 × 50 мм; 120 × 100 мм; 330 × 330 мм; 100 × 100 мм

Мобильное разрешение

Минимальный размер частиц может достигать 0,04 мкм (в зависимости от конфигурации); распространённые варианты: 0,1 мкм, 1 мкм.

Максимальная скорость платформы для грузов

Примерно 20–40 мм/с (в зависимости от модели)

Способы освещения

Кольцевое освещение; коаксиальное освещение; коаксиальное падающее освещение; смешанное освещение; проходящее освещение; ДИК; поляризация; темное поле; (в некоторых моделях поддерживается устранение кольцевого отражения)

Функциональные возможности программного обеспечения

Реальное время, слияние глубины резкости; HDR; склеивание изображений (создание сверхбольших пикселей); навигационная карта; 2D/3D/контурное/пакетное измерение; подсчёт частиц; анализ шероховатости; экспорт отчётов (CSV/Excel); баланс белого одним нажатием; автоматическая калибровка.

Аппаратная платформа

Моноблок (пример: 28‑дюймовый 4K‑монитор; высокопроизводительный процессор; 64 ГБ оперативной памяти; SSD + HDD)

Способность к измерению и анализу

2D/3D измерения; измерение профиля/высоты; быстрые измерения в пределах поля зрения; пакетные 3D-измерения; подсчёт частиц; анализ шероховатости и чистоты; автоматическое распознавание границ/градаций серого.

Связь / Экспорт данных

Форматы экспорта: CSV, Excel; возможен генерация пользовательских отчётов (в зависимости от функциональности программного обеспечения).

Окружающая среда / Питание (типичное)

Подробные сведения о питании, рабочих температурно-влажностных условиях и сертификации см. в технической документации по модели.

Дополнительные модули / аксессуары

Резервная/расширенная камера; поляризатор; адаптер для ДИК-микроскопии; комплект для просвечивающей/отражающей микроскопии; адаптер для темного поля; электрическое изменение увеличения; специальный зажим

Преимущества продукта

  • Сверхглубокое фокусное пространство: автономная центрированность АПО Оптический алгоритм слияния с функцией глубины резкости в реальном времени значительно увеличивает глубину резкости и сохраняет высокое разрешение деталей, что делает его идеальным для наблюдения за рельефными поверхностями.
  • Высокое разрешение и большое увеличение: поддерживается 20X–7500X (Через разные объективы / единиц), учитывая как макро-, так и микроуровневые наблюдения.
  • Реальное время, слияние глубины резкости и устранение кольцевого ореола: оптика + Алгоритм устранения бликов, Высокий динамический диапазон А также обеспечивает непрерывный автофокус в режиме реального времени, повышая контрастность изображения и детализацию.
  • Интегрированное интеллектуальное управление: электронное переключение кратности, автоматическая фокусировка, Икс-игрек/Зет Электрический предметный стол и ручной контроллер обеспечивают быстрое и повторяемое позиционирование и сбор данных.
  • Мощные измерения и анализ: 2D/3D Измерение, профиль / Измерение высоты, быстрое измерение через поле зрения, массовое 3D Измерение, подсчёт частиц, анализ шероховатости и чистоты, автоматическое определение краёв / Распознавание в оттенках серого снижает человеческую ошибку, данные можно экспортировать. Excel/CSV И сформировать пользовательский отчёт.
  • Сшивание изображений с большим полем зрения и навигация: сшивание изображений с высоким разрешением (возможно сшивание с чрезвычайно большим числом пикселей), навигационное картографическое позиционирование, 3D Сшивка и глубокое синтезирование — идеально подходят для анализа образцов большой площади.
  • Модульность и масштабируемость: широкий выбор камер, объективов, адаптеров для наблюдения (поляризация, ДИК , Пропускание / Отражение, темное поле и другие режимы, а также настраиваемая платформа, адаптированная под различные прикладные задачи.
  • Автоматизация и воспроизводимость: калибровка одним нажатием, воспроизведение условий съёмки и функция автоматического измерения повышают эффективность и согласованность контроля.

Применение продукта

  • Полупроводники и электроника: паяные соединения / Измерение высоты выводов, БГА Резка, золотое проволочное связывание, контроль дефектов чипа, пайка / Анализ покрытия
  • Материалы и металлография: наблюдение за металлографической структурой, анализ поперечного среза металла, шероховатости и состава поверхности.
  • Батареи и энергетика: обнаружение заусенцев на электродах литиевых батарей и дефектов их поверхности
  • Жизнь / Биологические образцы: крылья насекомых, структура фасеточного глаза, волосы / Организационное поверхностное наблюдение (необходимо выбирать в зависимости от типа образца) / Отражение и адаптивный объектив)
  • Промышленный контроль: режущий инструмент / Повреждение лезвия, бритвенная головка, порошок / Подсчёт частиц и статистический анализ их размеров, анализ чистоты поверхности
  • Крупногабаритные образцы и сцены мозаики: требуется высокое разрешение, масштабная мозаика, навигация и 3D Проверочная задача по стыковке

Следующая страница:

Отправьте ваш запрос

Отправить

Соответствующие товары

Отправить